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发表于 2008-4-29 14:47:42

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LVDS与阻抗匹配

最近同事做了块测试芯片的SOCKET板,发现一个问题总是解决不了,通过加班,我们终于发现了问题所在,并解决这个问题。

现象:图像异常,表现为灰阶图像中,某一阶上渗出紫色。

所试方法:换芯片,芯片引脚重新拖锡了一遍(防止LVDS虚焊或短路),均没有作用。

这时手按到板子的LVDS测试口上,发现图像会有变化,渗色会变弱,再用探头或者万用表点测试点也会有影响。

反过来检查PCB,发现LVDS的E0+/-,E1+/-作为IIS复用了,其在测试点外连到了很远的排阻上,尽管排阻没有装上,但是这样的走线,改变了LVDS差分线的阻抗。

由于差分信号频率较高,LVCLK=45MHz,阻抗不匹配影响了影响的完整性。故对图像质量影响较大。

解决方法,较这四根信号线在测试点处切断,问题解决。

建议

1、LVDS接口尽量不要用作其他用途;
2、LVDS走线要做100OHM阻抗匹配,且走线尽量短,走线尽量直线,不允许的直角出现,保持阻抗的连续性,避免有过孔出现;
3、LVDS差分线与地的间距要尽量大,减小差模寄生电容。

系统分类: 消费电子   |   用户分类: 电子技术篇   |   来源: 原创   |   【推荐给朋友】

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