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发表于:2008-7-15 22:19:33
标签:运放  比较器  

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关于比较器和运放

这个题目其实很多人都写过,也分析的详细和透彻。我只不过是想整理一下,同时想比较一下他们内部电路的异同点。

简单的讲,比较器就是运放的开环应用,但比较器的设计是针对电压门限比较而用的,要求的比较门限精确,比较后的输出边沿上升或下降时间要短,输出符合TTL/CMOS电平/或OC等,不要求中间环节的准确度,同时驱动能力也不一样。一般情况:用运放做比较器,多数达不到满幅输出,或比较后的边沿时间过长,因此设计中少用运放做比较器为佳。

运放和比较器的区别                                            

比较器和运放虽然在电路图上符号相同,但这两种器件确有非常大的区别,一般不可以互换,区别如下: 

1、比较器的翻转速度快,大约在ns数量级,而运放翻转速度一般为us数量级(特殊的高速运放除外)。 

注:比较器ns数量级是针对大信号情况下的速度,一般在几个us以内。

2、运放可以接入负反馈电路,而比较器则不能使用负反馈,虽然比较器也有同相和反相两个输入端,但因为其内部没有相位补偿电路,所以,如果接入负反馈,电路不能稳定工作。内部无相位补偿电路,这也是比较器比运放速度快很多的主要原因。 

3、运放输出级一般采用推挽电路,双极性输出。而多数比较器输出级为集电极开路结构,所以需要上拉电阻,单极性输出,容易和数字电路连接。

注:比较器也有不少推挽输出的,但以OC为主。

下面是实例分析:

1)典型比较器LM393A内部款图:

2)典型运放LM358内部款图:

点击看大图

这两款产品的框图都是NXP公司的,当然很多家也都能做。有框图可以看出来运放是要复杂一些的,其内部多出来相位补偿电路,有一个电容Cc,关于镜像电流源以及运放的深入的剖析,老师讲过,不过都还给他们了。呵呵。到此为止吧。

还有一段问与答:

问:运放可以连接成为比较输出,比较器就是比较。那市面上为何单独出售两种产品,他们的相同和不同之处是甚末呢?

答:

1)比较器输出一般是OC,便于电平转换;比较器没有频补,Slew Rate比同级运放大,但接成放大器易自激。 
2)比较器的开环增益比一般放大器高很大,因此比较器正负端小的差异就引起输出端变化. 
3)频响是一方面,另外运放当比较器时输出不稳定,不一定能满足后级逻辑电路的要求。 
4)比较器为集电极开路输出,容易输出TTL电平,而运放有饱和压降,使用不便。

 


 

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发表于:2008-7-11 17:26:10
标签:PMSM  矢量控制  

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基于矢量控制的高性能交流电机速度伺服控制器的FPGA实现

内容简介:

提出了一种全数字化的基于电流矢量控制算法的交流电机速度伺服系统控制器的硬件设计方案,并在一片现场可编程门阵列FPGA中得到了具体验证和实现.该方案综合运用了矢量控制算法、M/T测速算法、PI调节算法、SVPWM算法以及EDA设计方法学等,在速度伺服或位置伺服等高性能运动控制系统中有重要的应用价值.所设计的控制器集成电路提供了标准的主机通信接口,可以对各种控制参数进行在线调整,其电流环和速度环的采样频率均可以达到20kHz以上.实验结果表明,该控制器在低速与高速运行状态下均能获得良好的动态和静态性能,其可控转速范围为0.2~10000r/min.

PDF

附件为这片论文的pdf,希望对大家有点用。

该文是周兆勇师兄完成的,最早想将电机控制算法硬件化并付诸实践的公司是IR,其推出的imotion平台的基础就在这里。典型的芯片为IRMCK201和IRMCF341。电机算法的硬件化会带来不少好处,比如开发周期缩短,并且电流环和速度环带宽能做的很大,响应快,这是软件做不到的。但硬件化肯定会带来灵活性不够,容易仿制等缺陷。

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发表于:2008-7-9 22:13:33
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基于STM32的矢量变频器开发

STM32项目/学习计划表

项目名称  基于STM32的矢量变频器开发
请点击以下链接更新您的个人资料(包括“职位,部门,单位名称,地址,邮编,电子邮箱,电话”),以便我们能及时联系您并快速发送开发套件。http://space.ednchina.com/member/Register.aspx
联系方式
(邮箱/电话)
为了保证用户隐私,此处已被隐藏
预计实施时间 自  7月10日 到10月8日 计划参加人数  2人
背景描述 该计划的背景及其实现的目的、意义
 能源问题越来越成为制约发展的首要问题,矢量变频可以更有效的提高交流电机的运行效率,目前,国内对这项技术完全的很好的掌握的厂家还不多,因此还有一定的利润空间,这就是我们需要努力的原因。
功能描述 详细描述该项目能够实现的功能
 实现矢量变频调速0.1Hz-200Hz的调速范围
解决办法 预计会遇到的困难和相应的解决办法

 对电机运行特性参数的调试,比如速度和电流的带宽问题对电机运行性能的影响等。解决办法,理论联系实际,在吃透KpKi参数和电机特性的基础上实验解决这个问题。

软件的移植,从TI的平台转到STM平台过程中的问题。解决办法:多熟悉ST产品和开发平台。

预期效果

开发项目:这个项目如果成功的话,在性价比上将具有很强的竞争力。

学习项目:能学习到STM32的开发环境;熟悉变频器的软硬件开发;熟悉矢量控制及其软件算法实现。

 
时间安排 日  期 进    度    描    述
 7月10日-8月10日  熟悉STM32架构,确定硬件电路和软件的基本思想。(有开发基础)
 8月11日-9月10日  完成各模块软件及其联合调试
 9月11日-10月8日  软硬件综合调试,写项目总结报告
总结  这个项目将很有挑战,无论成能源角度还是从利润空间上看,都很有价值,刚好暑假,我会和朋友努力完成这个项目。
备  注

签名:毋金涛  唐华标           时间:2008.07.09

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发表于:2008-7-8 16:25:38
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IR的IRS2003半桥驱动电路

我在做一个有刷直流电机驱动时,积累的一些经验。由于采用H桥驱动方案,所以主要针对Mos管的驱动电路。我之前的电路如下(电机50W,110直流母线电压),采用IR公司的HVIC芯片IRS2003和4pcs的IRFR15N29D:

点击看大图

最后,这个电路还是不够完善,大家看看有什么可以改进的么?

通过实践证明,需要做如下改动:

1)自举二极管D3上串联一个10-20ohm电阻;

2)自举电容的选择可以更小2.2uF-10uF;

3)门极电阻最好反并一个1N4148,加快关断时间;

4)稳压二极管可以加,但一定要加在GS上。

供大家参考,希望有点用。谢谢。

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发表于:2008-7-8 15:44:19
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电动自行车控制器MOSFET驱动电路的设计(转载)

1、概述
电动自行车具有环保节能,价格合适,无噪声,便利等特点,因此,电动自行车成为当今社会人们主要的代步工具。与此同时,消费者和商家对整车的质量及可靠性要求也越来越高,作为整车四大件之一的控制器的可靠性显得尤为重要。功率MOSFET以及相关的驱动电路的设计直接与控制器的可靠性紧密相关,尤其是在续流侧方面,MOSFET的驱动电路设计不当,续流侧MOSFET很容易损坏,因此本文就如何测量、分析与调整控制器的MOSFET驱动线路来提高MOSFET的可靠性作一些研究,以便能够为设计人员在设计产品时作一些参考。

2、MOSFET开关过程及MOSFET参数模型
2.1 MOSFET开通过程中的波形见图1所示,其开通的过程可分为四个阶段:
阶段A、t0—t1:门极电压Vgs由0V逐渐上升至Vth,在此期间内MOSFET关闭,Vds不变,Id=0A。
阶段B、t1—t2:门极电压Vgs由Vth上升至平台电压Vp,门极电压为Cgs充电。在此期间内MOSFET开始导通并进入饱和状态,Vds基本保持不变,Id由0上升至Id(max)。
阶段C、t2—t3:门极电压Vgs保持不变,门极电压为Cgd充电。在此期间内MOSFET仍处于饱和状态,Vds迅速下降,Id保持不变。
阶段D、t3—t4:门极电压Vgs由Vp继续上升,在此期间内MOSFET退出饱和状态进入完全导通状态。
MOSFET关断时波形与开通时相反,在此不再赘述。

2.2 MOSFET寄生参数模型如图2所示。
由于MOSFET的结构、引线和封装的影响,在MOSFET制作完成后,其各引脚间存在PN结寄生电容和寄生电感,引脚上存在引线电感。由于源极的引线较长,Ls一般要比Ld大。右图为简化的MOSFET参数模型。因此,我们在实际的开关应用中应特别注意寄生电容和引线电感对开关波形的影响,特别是在负载为电感性负载时更应注意。MOSFET的输入电容、反向传输电容和输出电容分别表示如下:
Ciss=Cgs+Cgd
Crss=Cgd
                                          Coss="Cgd"+Cds

3、两种常见的MOSFET驱动电路
3.1 由分立器件组成的驱动电路(如图3所示),驱动电路工作原理如下:


A.当HS为高电平时,Q7、Q4导通,Q6关闭,电容C4上的电压(约14V)经过Q4、D3、R6加到Q5的栅极,使Q5导通。在导通期间,Q5的源极电压(Phase)接近电源电压Vdc,所以电容两端的电压随着Phase电压一起浮动,电容C4亦称为自举电容。Q5靠C4两端的电压来维持导通。


B.当HS为低电平时,Q7、Q4关闭,Q6导通,为Q5的栅极提供放电回路,从而使Q5很快关闭。当Q5关闭后,由于下管的开通或负载的作用,使得Phase电压下降接近0V,从而使C4经过+15V→D2→C4→GND回路充电,为下一次导通做好准备。

C.当LS为低电平时,Q8、Q11导通,Q10关闭,驱动电路通过R11为下管Q9的栅极充电,使Q9导通。

D.当LS为高电平时,Q8、Q11关闭,Q10导通,为Q9的栅极提供放电回路,使Q9关断。

E.当HS和LS同时为高电平时,上管开通下管关闭。当HS和LS同时为低电平时,上管关闭下管开通。在实际应用中,为了避免上下管同时开通,HS和LS的逻辑要靠MCU或逻辑电路来保证。

3.2 半桥驱动芯片组成的驱动电路如图4所示,工作原理如下:


A.当HS和LS同时为高电平时,HO有驱动电压输出,使Q1开通。当HS和LS同时为低电平时,LO有驱动电压输出,使Q2开通。


B.电容C2与分立器件驱动电路里的C4作用相同,同样为自举电容。

C.电容C1为去藕电容,为抑制功率MOSFET开关时对驱动电路浮动电源部分的干扰,一般应加上此电容。

3.3 两种驱动线路的区别:


A.两种驱动电路在开通时能提供基本相同的驱动电流驱动MOSFET开通,但在MOSFET关断时,分立器件驱动电路因为有三极管放电,所以能提供更大的放电电流关闭MOSFET,而半桥驱动电路由于要经过栅极电阻放电,所以放电电流相对较小,导致MOSFET关闭时间过长,开关损耗相应增加。解决的办法可以是在驱动电阻上反并联一只二极管并增加一个放电的PNP三极管。


B.分立器件驱动电路用的器件较多,可靠性相对没有半桥芯片的驱动电路高。但前提条件是半桥驱动芯片的驱动电路要设计合理。

4、MOSFET驱动线路的要求及参数的调整
4.1 门极电压不能超过Vgs的最大值。在设计驱动线路时,应考虑驱动电源电压和线路的抗干扰性,确保MOSFET在带感性负载且工作在开关状态时栅极电压不超过Vgs的最大值。


4.2 为了能够减少MOSFET的开关损耗,驱动线路应能提供足够大的驱动电流,使开通和关断的时间尽可能短,同时,尽量减少门极电压的高频震荡。如果要获得同样的RC时间常数,使用较小的驱动电阻和较大的电容可以获得较好的驱动特性,但驱动线路的损耗同时也增加了。 图5

图6
图5和图6是实际应用中的测试波形,从图中我们可以看出:①电容的增加使得开启的时间变长,增加了开通损耗。②电容的增加,使得门极电压的高频震荡减少。同时,由于米勒平台的振荡减小,MOSFET在米勒平台期间的损耗也会相应减小。

4.3 延长MOSFET的开通时间可以减小开通时的涌入电流。由于电机负载为感性负载,所以在PWM关断时存在续流现象(见图7中的I2),为了减小续流侧反向恢复电流(Irr)的大小,PWM侧开关管的开通速度不宜过快。由于MOSFET处于饱和区时有公式:Id=K*(Vgs-Vth)2,(K为一常数,由MOSFET的特性决定)。所以在一定的温度和Vds条件下,从MOSFET的门极驱动电压Vgs可以判断MOSFET中的电流大小。图5中Vgs峰值为9.1V,图6中Vgs峰值为6.4V,所以增加电容使得峰值电流减小。Id也可从MOSFET的转移特性图中获得。

4.4 由于MOSFET的封装电感和线路的杂散电感的存在,在MOSFET反向恢复电流Irr突然关断时,MOSFET(Q3)上的电压Vds会出现振铃(如图8中CH2所示)。此振铃的出现会导致Vds超过MOSFET的击穿电压从而发生雪崩现象。如果线路中出现振铃,我们可以通过以下方法来减小振铃:


A.设计线路时应考虑线路板布线:①尽量缩短驱动线路与MOSFET之间的线迹长度;②使大电流回路的铜箔走线尽量短且宽,必要时可以在铜箔表面加锡;③合理的走线,使大电流环路的面积最小。


B.如果线路杂散电感已经确定,可以通过减小PWM侧的MOSFET开通速度来减小在续流侧的MOSFET上的Vds振铃,从而能够使MOSFET上的Vds不超过最大耐压值。


C.如果以上两种方法都不能很好地解决问题,我们可以通过在相线上加snubber的方法来抑制线路的振铃。

4.5 注意Cdv/dt产生的栅极感应电压。


如图7所示:在控制MOSFETQ1的导通开关期间,因为Q1的米勒效应和导通延迟的缘故,满输入电压并不会立刻出现在Q3的漏极上。施加在Q3上的漏极电压会感应出一个通过其栅——漏极间米勒电容Cgd(见图2)进行耦合的电流。该感应电流在Q3的内部栅极电阻Rg和外部栅极电阻的两端产生一个压降。该电压将对Q3栅极上的栅——源极间电容Cgs进行充电。Q3上的感应栅极电压的幅度是dv/dt、Cgd、Cgs和总栅极电阻的一个函数。感应栅极电压如图8中的CH1所示,其值已达到2.3V。另外,由于源极引线电感的存在,在Q3内的电流迅速减小时,会在Ls的两端感应出一个极性为上负下正的电压,如图9所示,此时加在DIE上的电压Vgs(die)要大于在外部引脚上测量的Vgs电压,所以由于Ls的影响,使得MOSFET有提前导通的可能。如果下管由于感应电压而导通,则会造成上下管穿通,如果MOSFET不能承受此穿通电流,MOSFET就会损坏。

4.5.1 防止产生Cdv/dt感应导通的方法:
A.选择具有较高门限电压的MOSFET。
B.选择具有较小米勒电容Cgd和较小Cgd/Cgs的MOSFET。
C.使上桥(Q1)的开启速度变慢,从而减小关断时的dv/dt和di/dt,使感应电压Cdv/dt和Lsdi/dt减小。
D.增加Q3的栅极电容Cgs,从而减小感应电压。

4.5.2 保留Cdv/dt感应导通的好处
Cdv/dt感应导通有一个好处:它能够减小续流侧MOSFET上的电压尖峰和Vds振铃(V=L×dIrr/dt;L:环路寄生电感),同时也减小了系统的EMI干扰。因此,在设计MOSFET驱动线路时,我们应根据实际情况来权衡驱动参数的调整,即究竟是阻止Cdv/dt感应导通以求最大限度地提升电路效率和可靠性还是采用Cdv/dt感应导通来抑制过多的寄生振铃。

5、结论
A.在开始设计之前,应该全面了解所选MOSFET的参数,判断MOSFET是否能满足产品要求,包括MOSFET的耐压(Vgs和Vds)、最大电流等参数,确保当工作条件最恶劣时这些参数不要超过MOSFET的最大额定值。


B.在线路设计阶段,必须进行热设计,以确保MOSFET工作在安全工作区。应特别注意线路板的布线,尽量减小线路杂散电感。

C.在不影响可靠性的情况下尽量缩短开关时间,将开关损耗降到最低。有时为了进一步提高效率,降低温升,还可采用同步整流。■

万代半导体元件(上海)有限公司高级应用工程师葛小荣
浙江省台州新大洋机电科技有限公司318020王庆

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发表于:2008-7-1 13:02:14
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关于我的博客

不是第一次写博客了,对于技术,我有着割不断的情结,虽然屡被人鄙视,可就是在这个过程里,我得到了提高。我不害怕别人怎么说,关键是要让自己满意,就目前的阶段而言,连我自己都不满意,所以才有了很强烈的改善的愿望,我希望把自己更多的精力都集中在电机控制这个领域里,这里面会涉及到方方面面的知识及经验,我会在这个博客里和大家分享讨论。

我会专注于电机控制技术,模拟,电源管理技术。

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