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发表于 2008-7-13 9:50:16

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标签： 过采样  

使用过采样提高STM32F的ADC精度

ST的官方文档（英文），介绍了使用过采样提高ADC采样的方法。

http://www.st.com/stonline/products/literature/an/14183.pdf

 

  • 关于过采样提高ADC的精度，我曾经翻译过ATMEL的应用笔记AVR121，比较详细的介绍了过采样的原理和实现方法，比ST的文档更加详细一些，大家可以对比参考一下。

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系统分类: 单片机   |   用户分类: STM32   |   来源: 无分类   |   【推荐给朋友】   |   【添加到收藏夹】

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