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发表于:2008-2-24 17:52:58
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传感器的应用与挑战

用于测量压力、温度和加速度等量值的传感器一直是汽车电子的主角。但大量需要具备此类功能的系统,诸如燃油喷射控制、燃油经济性和安全系统(包括“智能”气囊和胎压监测),已经超越在需要的地方安放一个传感器并将感应信号送回控制单元这样一种水平。

各种数字总线系统的出现,能够方便地实现集中化处理及简化的线束连接,并且使得充分利用集成在负责数据采集的传感器内部的处理智能的优势成为可能。但这样一种架构也带来了可靠性方面的隐忧;此外,典型汽车应用在不断降低成本方面也面临着不少挑战。

类似控制器区域网络(CAN)以及更强大的FlexRay总线等高速总线,传统上用在类似引擎和底盘控制等需要密集计算、快速处理的场合。而低成本、单线连接的本地互连网络(LIN)是为诸如座椅定位和温度控制等对速度要求不苛刻、但着重于简单性和低成本的车身电子应用开发的。单线式(single-wire)LIN还意味着更轻的重量,从而能够带来更佳的燃油经济性。

德州仪器(TI)的全球先进嵌入式控制营销经理Matthias Poppel表示,能将控制IC与传感器放在被监控的机械部分上,能够节省空间及简化系统中央处理器的处理工作。但他接着说,这种将机械和电子整合在一起的机电一体化传感器的可靠性是个问题。“其灵活性也不够(对设计工程师来说),因为这种集成传感器也许只有一个供应商,而由分立器件组合起来的部件一般有数家供应商,”他补充道。

按Poppel的观点,“向32位MCU的转变以及接至机械部分的附属(satellite)处理器/传感器构造还有待进考验。”他举例说,装配有附接至一个测量器件的机电传感器(mechatronic sensor)的PCB必须进行测试和验证,以确保在任何可预期的动作、负载、温度和振动条件下的稳定和可靠性。

飞思卡尔半导体传感器业务部的可编程控制器功率高级行销经理Steve Henry也提到了对传感器可靠性的关注及封装对其的影响。“例如,对传感器-加速计的挑战是用户希望整合在一起的传感器和控制器IC能有更小的封装。”

Henry表示,飞思卡尔提供了一款6mm×6mm QFN表面贴装的微机电系统(MEMS)器件,但裸片必须堆叠起来,以满足更小的总体封装要求,以便能贴装在越来越紧凑的空间内。

在将加速计(能对质量和共振进行监测)堆叠在处理器芯片上时,需要留意来自负载和震动等外部环境对应力敏感性的影响,Henry说。“用硅胶、RTV或其它材料封裹该加速计,将使其与封装绝缘,”他指出。但之后需要开发一种不同的裸片粘接技术,因“它可能试图采用线邦定技术与一个枕垫连在一起,” Henry介绍。另外,此举也会影响可靠性。

“由于你无法将全部功能都集成在一块硅片上,所以需要对裸片进行堆叠,以便优化工艺,” 飞思卡尔传感器产品部的营销、应用和系统经理Mark Shaw表示。你能利用很高的芯片逻辑密度和(传感器处理器)高耐压的优势且不被MEMS工艺所限制,他说。而Henry认为,应从封装的角度审视传感器。这样做得出的结论是:不将其放在一块硅片上,而是分放在处理器和传感器两个芯片上。


图1:LIN、CAN和FlexRay等不同数字总线的比较


图2:未来的传感器封装将适合嵌入进轮胎构造内

Shaw指出,尺寸较大的MCU芯片本身的裸片尺寸也较大。“MEMS的故障率较高,而良率较低,”他指出,将处理器和MEMS传感器放在一块芯片上将付出更大代价。如果传感器区域的MENS发生故障,再好的处理器部分也会跟着报废。

虽然也认同必须提升传感器的良率,但混合信号芯片供应商ZMD美国公司的总裁Frank Cooper却认为,转向他称之为“单硅片方案”提供的简化封装将具有优势。与将ASIC线邦定至传感器和连接器进行线绑定起来进而再封装在一起的方法相比,这种方法更有优势。

“真正的单芯片方案将G传感器(加速计)、温度传感器或流量传感器与信号处理部件放同在一块芯片上,从而可以实现最少的线邦定,”Cooper说。这样一来,传感器安装中发生爆裂、短路、疲劳和污染的地方就较少。


图3:安全和发动机效率仍将是当前及今后汽车传感器应用的关注焦点

当轮胎接触路面

因为传感器要面对它们以前从没遇到的严酷环境,所以可靠性也是个问题。具有代表性的一个应用是胎压感测(TPS)。美国国家公路交通安全管理机构强制要求在2006型年(model year),20%的新车要配备TPS传感器。

英飞凌科技的传感与控制部门主管John McGowan表示,TPS传感器用在“局促、闷热的地方”,而且必须坚固耐用、寿命长,另外,还要有合理的成本。英飞凌的工程师通过将一个用于数据处理和信号调制的CMOS ASIC与一个压电式压力测量元件放在一个公共的引线框架内,开发出这样一款传感器。在两层玻璃间夹着ASIC的“三层硅三明治”结构坚固耐用,McGowan表示。

飞思卡尔的Henry也谈到了“媒介兼容性”问题,其中,TPS传感器可能被暴露在 “有趣的化学物”下、液体能溅到车库中的轮胎上,这些东西包括:从电池溢出的酸、装配用润滑剂、尘土、来自制造工艺的化学残留物及充满气的轮胎内的潮湿空气。

英飞凌的McGowan表示,将处理功能与传感器整合在一起,能确保温度补偿、自校正和失效模式检测等功能的精确性。在成本控制方面,可通过在单芯片上集成多种功能和特性(与过去采用的分立无源器件的方式相反)以及量产来着力。最后,这种智能附属传感器允许将更小的中央处理器从数据运算中解放出来,以便进行更快的决策处理。

目前的胎压监测传感器不是作为凸起的一块安装在胎外就是固定在轮缘的内部。因这些设备是由纽扣电池供电的,McGowan表示,一线供应商追求10年的电池寿命。“为达到此目的,我们在处理算法中使用车辆信息,在车停止不动时,降低采样和传输速率,”他补充说。

未来的压力监测可能由直接嵌入在轮胎构造内的传感器完成。这些传感器必须由McGowan称之为的“能量积聚(energy scavenging)”技术来供电,这种技术利用轮胎挠曲性来驱动为传感器提供能量的应变器件(piezo)。该概念能被扩展,例如,利用引擎震动作为碰撞传感器的工作能量。另一种方法是通过感应方式从轮胎外对嵌入式胎压传感器进行驱动。这里需关注的事项包括:轮胎毂内的任何金属天线环对轮胎物理特性的影响。


图5:采用QFN封装的最新双芯片加速计具有6mm×6mm×1.45mm的裸片堆叠尺寸(右)。芯片顶部的是加速计核,CMOS控制IC在底部。(顶部)还显示了QFN传感器堆叠工艺

由Magneti Marelli领导的一个小组围绕着“智能轮胎“展开了初期的工作,它超越了单纯的压力检测水平。该小组的成果由项目主管Andrea Neponte和战略创新经理Piero De La Pierre在SAE 2005世界大会上发表(论文2005-01-1481)。轮胎测试将不止测试压力;在内部衬垫上的一个三轴加速计也将提供沿着三个轴的轮胎力数据、轮胎接触块的大小以及路面情况(通过振动数据)。

虽然测试时使用了电池以保证通信连接的可靠性,但在传感器需要的功率级(300毫瓦)方面,该团队相信应变片方法不能为该应用提供足够功率。这样一种轮胎数据系统可用于为汽车底盘控制系统提供信息或确定是否需要进行轮胎或悬挂系统服务。

汽车传感器展望

未来五年内,传感器的其它应用很可能将包括更多的基于陀螺仪的器件,飞思卡尔的Shaw表示。这些器件将为滚动稳定性控制及其它轴闭环控制提供角速率数据。这些陀螺仪将以MEMS为基础,随着产量的增加,MEMS的加工成本将降下来。

英飞凌的压力和霍尔效应传感器营销经理Peter Knittl认为,要为由气囊触发的撞击传感器增强性能,将会采用基于压力的器件而不再是目前使用的G传感器。“这种向‘有源’传感器的转变是由(美国)政府为防范侧部撞击而新颁布的法令(FMVSS-201)拉动的,”他说。“当结构变形时,G传感器将触发。但车门内的压力传感器不久(约5到6ms)将检测到一个声波,而G传感器的检测时间是10ms。”未来的气囊系统可能同时采用这两种传感器,从而增强冗余性。

汽车传感器系统的发展趋势不仅是传感器将用在哪些地方的风向标,还体现出“各种总线系统是如何必须一道工作以及各总线是专门针对哪个应用领域的,”TI的Poppel表示。

两线式还是三线式?

ZMD的Cooper表示,他很惊讶为什么单线式LIN总线尚没能在车内占据更大的主导地位。典型应用仍采用三线式辐射度(radiometric)传感器接口。也许随着新的数字协议的出现,汽车产业的人士中没有人想冒召回或其发生流血事故的风险。”所以,经过验证的传统器件会让开发人员用起来得心应手,并希望能够方便地使用库存器件,他接着说。“虽然行业走向也许是一种数字接口,他们仍着眼于模拟(三线)输出信号。”


表1

Cooper预计未来五年内将出现更小、更轻、处理能力更强的传感器,但只有很少的电子控制单元(ECU)模块处理它们。另外,他认为,随着连线的减少(重量更轻),燃油经济性将更高,辐射也会更低,并且无需另一层的数据插值(interpolation),这些将有助于推动向数字接口标准基础设施的转变。

“如今一些汽车内拥有100多个ECU,而目标是减少车内ECU的数量,”TI的Poppel表示。“代码的可重复利用性也将对降低成本有助益。另外,虽然能在手持无线应用中见到当今领先的技术,但(因其短暂的设计周期)这些产品并没有很长的使用周期。另一方面,汽车毕竟是需要电子提供高质量和高可靠性的长期使用系统。”

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发表于:2008-2-24 17:48:45
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运算放大器的稳定性(九):电容负载稳定性

保持电容负载稳定性的六种方法”。这六种方法包括:Riso、高增益及 CF、噪声增益、噪声增益及CF、输出引脚补偿以及带双向反馈的 Riso。我们将在本部分介绍输出引脚补偿。这种保持电容负载稳定性方法不同于输出运算放大器“缓冲”网络,输出运算放大器“缓冲”网络通常用于功率运算放大器(带有所有 NPN 输出级)输出,其目的是在驱动电容负载时防止意外高频振荡。本系列文章的后面章节将详细介绍“缓冲”网络的使用情况。

有时,在现实生活中,我们并非总能够接近运算放大器的 -输入和/或 +输入,因此无法在模拟工具栏中使用其他补偿方法。我们将会在本部分探讨用于发射极跟随器输出运算放大器及 CMOS RRO 运算放大器的输出引脚补偿方法。发射极跟随器应用需要在独特的 4~20mA 构建块集成电路上采用一个参考输出。CMOS RRO 应用涉及一种用于电源反馈的差动放大器。这两种依范例定义的情况都属于现实应用。为此,我们可以断定唯一的保持电容负载稳定性的方法只能是输出引脚补偿。除了一阶分析与 TINA Spice 模拟之外,我们还可以利用“预测”结果来进行实际实施。

双极性发射极跟随器:输出引脚补偿

我们的双极性发射极跟随器输出引脚补偿实例如图 9.1 所示。XTR115/XT116 是一种可以将输入电压变化转换成 4~20mA 模拟信号的双线4~20mA 集成电路。由于 4~20mA 发送器用于驱动长距离线路,因此需要 7.5~36V 的大工作电压范围。此外,XTR115/XTR116 配有子稳压器,可为传感器调节电路提供 5V 的供电电压,以及 2.5V(XTR115)或 4.096V(XTR116)的高精度参考电压。

4~20mA 信号范围是既定的行业标准,用于工厂(普遍存在 50 或 60Hz 高电压噪声)等嘈杂环境中长距离(1 英里或 1.6 公里以上)模拟信号的传输。由于该标准是采用电流控制的传输,因此使用两条线路可以避免电压噪声耦合。它采用两条相同的线路来传输功率与信号。由于使用的模拟信号范围规定为 4~20mA,因此其中 4mA 的信号可驱动信号调节电路并触发两条线路发送器端的传感器。功率由接收机提供,而接收机同时还能接收 4~20mA 的模拟信号,该信号已根据传感器测量的实际参数(如:桥接压力传感器发送的压力)进行了分级。4~20mA 信号在接收机端通常由 A/D 转换器转换为1V~5V的电阻器(250 欧姆)电压。

通常在此类 4~20mA 传感器发送器中采用微控制器读取并将线性常数应用到实际传感器中。微控制器必须是低功耗控制器,以便允许某些电流触发传感器,原因是我们的总调节电路电流预算必须低于 4mA。MSP430F2003 提供一种低电压、低静态电流微控制器。该微控制器具有一个用于读取桥接变化的板上 ADC。在微控制器应用了线性常数之后,即与 DAC8832(一款用于生成 XTR115/XTR116 所需模拟输入电压的低功耗 DAC)进行通信。DAC8832 由一种零漂移、低功耗、单电源的运算放大器(OPA333)进行缓冲。由于我们的系统是一套完美的系统,因此可驱动任何器件,其中包括XTR115/XTR116 的精确VREF 引脚。我们之所以选择 XTR115 (2.5V VREF) 是因为 MSP430F2003 只能在 1.8V~3.3V 范围内工作。目前 MSP4302003 的板上 ADC 以及 DAC8832 将采用 XTR115 高精度 2.5V 参考电压。我们的典型总调节电路静态电流为 562uA,可以保留 3.4mA 的电流用于触发桥接传感器。目前我们唯一的难题是需要添加许多本地旁路电容器,以便在 XTR115 的 VREF 引脚驱动的众多集成电路附近实现良好的高频旁路。XTR115 VREF 引脚是否稳定?

图 9.1:4-20mA 桥接传感器应用
图 9.1:4-20mA 桥接传感器应用

图 9.2 详细说明了 4~20mA 桥接传感器信号调节器应用中采用的集成电路的主要规格。

图 9.2:4~20mA 调节电路 IC 主要规格
图 9.2:4~20mA 调节电路 IC 主要规格

XTR115 VREF 引脚是图 9.3 所示的发射极跟随器输出拓扑运算放大器的输出引脚。

图 9.3:XTR115 VREF 引脚:发射极跟随器输出运算放大器
图 9.3:XTR115 VREF 引脚:发射极跟随器输出运算放大器

图 9.4 显示了 XTR11 VREF 引脚的等效示意图。VREF是缓冲的 1.25V 带隙参考电压,经过 2 倍放大后产生 XTR115 2.5V 参考输出电压。发射极跟随器输出级的 Ro 为 4.7k 欧姆。我们是从工厂获得上述信息、RF 与 RI 值以及 U1 的 Aol 曲线的,因为 XTR115 的产品说明书并未详细介绍所有资料。我们的总电容负载 CL 为 500nF。Ro 与 CL 互动,形成 XTR115 VREF 运算放大器的 Aol 修正曲线中的第二个极,即 fpu1。请注意:我们无法接入 U1 的 - 输入或 + 输入,因为它是 XTR115 的内部器件。所以我们只能使用一个引脚来补偿放大器稳定性(输出引脚:VREF)。另外,我们希望使 VREF 引脚保持极高的精度,因此在 CL 前面将该引脚与任何电阻串联均不是理想的解决方案。

图 9.4:XTR115 VREF 引脚:电容负载等效示意图
图 9.4:XTR115 VREF 引脚:电容负载等效示意图

我们将采用图 9.5 所示的 TINA Spice 电路检验运算放大器的 Aol 曲线以及由于 CL 导致的 Aol 修正曲线。我们通过 LT(相关 DC 频率时短路、相关 AC 频率时开路)以及 CT(相关 DC 频率时开路、相关 AC 频率时短路)使用我们的 Spice AC 分析方法。

图9.5:AC 稳定性检查:原始电路
图9.5:AC 稳定性检查:原始电路

图 9.6 显示了运算放大器 Aol 曲线以及由于 CL 导致的 Aol 修正曲线。在 fcl1 可以看到,就我们的一阶稳定性标准而言不稳定的每十倍频程 40db 的闭合速率。根据预测,CL 导致的 fpu1 为 67.73Hz,其从检测的角度来看在本图中是正确的。

图 9.6:Aol 与修正 Aol:原始电路
图 9.6:Aol 与修正 Aol:原始电路

我们检查了图 9.7 所示的环路增益图,并可以证实了当相位裕度在-fcl1 位置几乎为零时(0.442 度)对稳定性的担心。

图 9.7:环路增益图:原始电路
图 9.7:环路增益图:原始电路

我们在图 9.8 进行瞬态稳定性测试 ,即在附带 500nF CL 的闭环电路中注入一个较小的方形波。

图 9.8:瞬态稳定性测试:原始电路
图 9.8:瞬态稳定性测试:原始电路

图 9.9 中的瞬态稳定性图再次表明我们的电路并不稳定。我们的运算放大器输出在响应小步阶变化时从未稳定过。请注意:VOA 以大约 2.5V 幅度变化,表明我们的 DC 电平对于本电路而言是正确的。

图 9.9:瞬态稳定性图:原始电路
图 9.9:瞬态稳定性图:原始电路

我们在图 9.10 中明确了用于双极性发射极跟随器输出放大器的输出引脚补偿方法。首先我们用 fpu1 来修正运算放大器原始 Aol 修正曲线,fpu1 是由于 Ro 与 CL 产生的极点(参见曲线 1)。一旦创建了该曲线,我们就可以绘制从曲线 1 与 0dB 交叉点开始的第二条曲线(曲线 2)。从上述起点我们按照每十倍频程 -20dB 的斜率绘制出比 fp1(运算放大器 Aol 低频极点)高一个十倍频程的点,我们在此处把斜率修改到每十倍频程 -40dB。在频率为 fp1 时我们将斜率改回每十倍频程 -20dB,直到与运算放大器的 DC Aol 值相交叉。上述建议的 Aol 修正曲线(曲线 2)满足我们所有经验标准——通过使极点与零点相互保持在一个十倍频程之内,从而保持环路增益相位在环路增益带宽范围不低于 45 度。另外,我们建议的 Aol 修正曲线(曲线 2)还可满足在 fcl2 闭合速率为每十倍频程 20dB 的一阶稳定性标准。

图 9.10:输出引脚补偿:双极性发射极跟随器
图 9.10:输出引脚补偿:双极性发射极跟随器

图 9.11 说明了我们如何利用 RCO 及 CCO 获得建议的 Aol 修正曲线。另外我们还需要考虑另外一个极点,因为 CCO 在某些高频情况下会短路,而且 CL 与 RCO 将形成一个附加高频极点。即使此极点在 fcl2 之外出现,我们的情况仍然正常。

图 9.11:AC 稳定性检查:输出引脚补偿
图 9.11:AC 稳定性检查:输出引脚补偿

由于知道 Ro 与 CL,因此可以利用图 9.12 所示公式以及图 9.10(曲线 2)建议的 Aol 修正曲线计算出补偿分量 RCO 与 CCO 以及由 RCO 与 CL 形成的超高频极点。

图 9.12:输出引脚补偿公式:双极性发射极跟随器
图 9.12:输出引脚补偿公式:双极性发射极跟随器

我们在图 9.13 中采用输出引脚补偿方法绘出预测曲线。由于 XTR115 之内的闭环运算放大器以 2 倍增益运行(6dB),闭环 VREF/VIN 曲线始终保持平直,直到在 fcl2 位置与 Aol 修正相交,由于环路增益已经等于零,因此此后该曲线随 Aol 修正曲线一直降低。

图 9.13:最终预测曲线:输出引脚补偿
图 9.13:最终预测曲线:输出引脚补偿

图 9.14 是在采用图 9.11 所示电路的情况下,我们的 AC 稳定性分析 TINA Spice 模拟结果。在 fcl2 位置时可以看到每十倍频程 20dB 的闭合速率,但是我们应当通过相位图了解详细情况。

图 9.14:Aol 与 Aol 修正:输出引脚补偿
图 9.14:Aol 与 Aol 修正:输出引脚补偿

图 9.15 所示的环路增益图证明我们的输出引脚补偿方法可以产生稳定的电路。在 fcl2 位置时相位裕度为 40度,相位在环路增益带宽范围内不会过多低于 45 度。如果需要,我们可以细微调节输出引脚补偿值,以便在 fcl2 获得更高的相位裕度。

图9
图9.15:环路增益:输出引脚补偿

图9.16中的电路采用瞬态稳定性测试来检查采用了输出引脚补偿的最终电路。

图9
图9.16:瞬态稳定性测试:输出引脚补偿

图 9.17 所示的瞬态稳定性测试结果证明了我们的环路增益检查,即输出引脚补偿可以产生稳定的电路。一个较低的过冲以及无过度振铃的一个下冲看起来接近典型的、45 度相位裕度补偿电路。

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图9.17:瞬态稳定性图:输出引脚补偿

图 9.18 所示的 TINA Spice 电路使我们能够检查最终的 VREF/VIN 闭环 AC 响应是否符合在图 9.13 中的预测。

图 9.18:VREF/VIN AC 电路:输出引脚补偿
图 9.18:VREF/VIN AC 电路:输出引脚补偿

根据图 9.13,我们估计 fcl2 约为 5kHz,因此预计对于 VREF/VIN 而言在该点会出现陡然降低。在图 9.19 中,我们可以看出闭环 AC 响应符合预测结果。在 AC 闭环响应中存在轻微峰化现象,不过其对于本应用不会造成影响。同样,如果我们希望减少这种峰化现象,就需要再次利用我们的输出引脚补偿把 fcl2 点的相位裕度提高到 40 度以上。

图9.19:VREF/VIN AC响应:输出引脚补偿
图9.19:VREF/VIN AC响应:输出引脚补偿

CMOS RRO:输出引脚补偿

我们的 CMOS RRO 输出引脚补偿实例如图 9.20 所示。这种实际电源应用采用 OPA569 功率运算放大器作为可编程电源。为了在负载上提供精确的电源电压,可以采用一种差动放大器 INA152 对负载电压实施差动监控。闭环系统可以补偿任何从可编程电源到负载的正/负连接中的线路压降造成的损耗。OPA569 上的电流限值设定为2A。在我们的实际应用中,这种电源具有灵活的配置,因此可以在差动放大器 INA152 的输出上提供多大达10nF 电容。这样是否能够实现可编程电源的稳定运行?

图 9.20:可编程电源应用
图 9.20:可编程电源应用

我们在图 9.21 中详细说明了在我们的可编程电源应用中使用的 IC 的主要规格。

图9.21:可编程电源 IC 主要规格
图9.21:可编程电源 IC 主要规格

我们用于反馈的 INA152 差动放大器采用如图 9.22 所示的 CMOS RRO 拓扑。

图9.22:INA152 差动放大器:CMOS RRO
图9.22:INA152 差动放大器:CMOS RRO

我们采用图 9.23 中的 TINA Spice 电路检查可编程电源的稳定性。我们的 DC 输出由 Vadjust 设定到3.3V,同时应用一个较小的瞬态方形波检查过冲与振铃。

图9
图9.23:瞬态稳定性测试:原始电路

图 9.24 中的瞬态稳定性测试结果显然不够理想。我们不希望在未经进一步稳定性补偿情况下投产这种电路。

图9
图9.24:瞬态稳定性图:原始电路

图 9.25 中的 TINA Spice 电路用于检查原始电路中的不稳定性是否由 INA152 输出端的 CX负载所引起。我们将采用瞬态稳定性测试进行快速检测。

图9.25:差动放大器反馈:原始电路
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图9.25:差动放大器反馈:原始电路

图9.26可以证明我们的推测,即:是CX造成了差动放大器INA152的不稳定性。

图9.26:瞬态图:差动放大器反馈,原始电路
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图9.26:瞬态图:差动放大器反馈,原始电路

差动放大器由 1 个运算放大器以及 4 个精密比率匹配电阻器构成。这给我们的分析工作带来了挑战,因为我们无法直接接入内部运算放大器的 - 输入或 + 输入。在图 9.27 中我们可以看到差动放大器的等效示意图,同时可以看出测量 Aol 的明确方法。我们将采用 LT 断开任何相关 AC 频率的反馈,同时仍然保持准确的 DC 工作点(LT 对于相关 DC 频率短路,对于相关 AC 频率开路)。通过把 INA152 的 Ref 引脚连接到 VIN+ 引脚,我们可以创建一个非反相输入放大器。通过在 Sense 与 VOA 之间放置 LT,我们可以理想地在任何相关AC频率驱动运算放大器进入开路状态。INA152 运算放大器的内部节点 VM 可以在相关 AC 频率达到零点。VP 只需作为 VG1,然后我们可以轻松测出 Aol = VOA/VG1。请注意:我们只要把 VdcBias 设定为 1.25V 以便在 VOA 产生 2.5V DC,即可衡量 DC 工作点。

我们把图 9.27 的 INA152 Aol 测试电路概念转化成图 9.28 所示的 TINA Spice 电路。我们知道,用于 INA152 的 TINA Spice 宏模型是一种 Bill Sands 宏模型[参考:《模拟与 RF 模型》,(http://www.home.earthlink.net/%7Ewksands/)],因此该宏模型可以精确匹配实际硅片。

图9.27:INA152 Aol 测试电路概念
图9.27:INA152 Aol 测试电路概念

图9.28:TINA Spice INA152 Aol 测试电路
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图9.28:TINA Spice INA152 Aol 测试电路

图 9.29 说明了根据 TINA Spice 仿真获得的 INA 152 详细 Aol 曲线。请注意:Aol 曲线中在 1MHz 时存在第二个极点,在基于 Aol 相位曲线的频率之外存在某些更高阶的极点,其在 1MHz 之外表现出比每十倍频程 -45度更陡的斜率。

图 9.29:INA152 Aol TINA Spice 结果
图 9.29:INA152 Aol TINA Spice 结果

由于我们已知道 INA152 是一款 CMOS RRO 差动放大器,因此,除了 Aol 曲线,还需要 Zo 进行稳定性分析。在图 9.30 中建立一个 Zo 测试电路概念。与图 9.28 的 Aol 测试电路相似,我们可以利用所示的 LT 与电路连接强迫 INA152 的内部运算放大器在任何相关 AC 频率进入开路状态。我们现在将采用设为 1Apk 的 AC 电流电源驱动输出,同时直接根据 VOA 的电压测量 Zo。

图 9.30:INA152 Zo 测试电路概念
图 9.30:INA152 Zo 测试电路概念

我们在图 9.31 中建立了 TINA Spice INA152 Zo 测试电路。快速 DC 分析表明我们可以得到 INA152 的正确 DC 工作点。最好在利用 Spice 进行 AC 分析之前先执行 DC 分析,以便确定电路在任何电源轨下都不饱和,电源轨可能会造成错误AC分析结果。

图 9.31:INA152 Zo TINA 测试电路
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图 9.31:INA152 Zo TINA 测试电路

图 9.32:INA152 TINA Zo 曲线
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图 9.32:INA152 TINA Zo 曲线

图 9.32 的 TINA Zo 测试结果显示了 Zo 的典型 CMOS RRO 响应。我们可以看到在 fz="76".17Hz 时出现一个零点,在 fp="4".05Hz 时出现一个极点。

图 9.33:INA152 Tina Ro 测量
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图 9.33:INA152 Tina Ro 测量

我们在图 9.33 中根据由 TINA Spice 创建的 Zo 曲线测量 Ro。Ro = 1.45k 欧姆。

我们从测量的 Zo 图可以获得 Ro、fz 以及 fp。我们利用这些资料可以创建 INA152 的等效 Zo 模型,如图 9.34 所示。

图 9.34:INA152 Zo 模型
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图 9.34:INA152 Zo 模型

我们可以利用 TINA Spice 仿真器快速检测等效 Zo 模型与实际 INA152 Zo 相比的准确性。等效 Zo 模型结果如图 9.36 所示,并与图 9.35 作了相关对比。由此可见,等效 Zo 模型非常接近,因此可以继续进行稳定性分析。

图 9.35:Zo 等效模型与 INA152 Zo 对比
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图 9.35:Zo 等效模型与 INA152 Zo 对比

图 9.36:TINA 图:INA152 等效 Zo 模型
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图 9.36:TINA 图:INA152 等效 Zo 模型

现在我们可利用 Zo 等效模型分析负载电容 CL 对 INA152 输出的影响。从 Aol 曲线中,我们可以看到在CL=10.98kHz 时造成的附加极点(如图 9.37 所示)。

图 9.37:计算 Zo 与 CL 造成的极点(fp2)
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图 9.37:计算 Zo 与 CL 造成的极点(fp2)

我们在图 9.38 中在 INA152 的等效 Zo 模型中添加 CL(CL=10nF)。

图 9.38:用于分析 fp2 的 TINA 电路
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图 9.38:用于分析 fp2 的 TINA 电路

从图 9.39 我们可以看出模拟结果中 fp2 位于 11.01kHz,其非常接近我们预测的 10.98kHz,因此可以继续分析。

图 9.39:Zo 与 CL=
图 9.39:Zo 与 CL="10nF" 时的 fp2 图

图 9.40:CL=10nF 时,Aol 修正曲线的 TINA 电路图
图 9.40:CL=10nF 时,Aol 修正曲线的 TINA 电路图

现在我们可以对 CL="10nF" 的实际 INA152 进行 TINA 模拟,并使用图 9.40 的电路将其与预测响应进行对比。

图 9.41 的 TINA 模拟结果显示了 INA152 运算放大器原始 Aol 在 3.4Hz (fp1) 时造成的低频极点以及 Zo 与 CL="10nF" 在 fp2=11.02kHz 时产生的第二个极点。请记住,我们曾经根据一阶分析预测fp2=10.9kHz,并根据 CL="10nF" 的等效 Zo 模型预测 fp2=11.01kHz。

图 9.41:CL=10nF 的 Aol 修正曲线的 TINA 图
图 9.41:CL=10nF 的 Aol 修正曲线的 TINA 图

图 9.42:输出引脚补偿:CMOS RRO
图 9.42:输出引脚补偿:CMOS RRO

我们在图 9.42 中确定用于 CMOS RRO 运算放大器的输出引脚补偿方法。此方法的图形与适用于双极性发射极跟随器运算放大器的输出引脚补偿方法的图形非常类似。我们首先利用由 Zo 与 CL 造成的极点 fp2 修正运算放大器的最初 Aol 曲线(见图 9.41)。一旦创建了该曲线(修正 Aol,CL=10nF),我们就可以绘制从 CL="10nF" 的Aol 修正曲线与 0dB 交叉点开始的第二条曲线(最终修正 Aol)。从上述起点我们按照每十倍频程 -20dB 的斜率画到比 CL="10nF" 的Aol修正曲线的 0dB 交点低一个十倍频程的点(100kHz)。我们在 fzc1 极点将斜率修改为每十倍频程为 –40dB。我们在 fpc2 极点与原始 INA152 Aol 曲线相交。通过使极点和零点相互保持在一个十倍频程内以保持环路增益相位在环路增益带宽范围不低于 45 度,这样上述建议的最终 Aol 修正曲线符合我们所有经验标准。另外,我们建议的最终Aol曲线修正还满足在 fcl 极点闭合速率为每十倍频程 20dB 的一阶稳定性标准。

图 9.43 详细说明基于 Zo 及 Slide 47 的预期最终Aol修正曲线的公式。此外,我们注意到在CCO 短路时由于 RCO 与 CL 相交造成的另一个高频极点。

图 9.43:输出引脚补偿公式:CMOS RRO
图 9.43:输出引脚补偿公式:CMOS RRO

我们在图 9.44 中建立一个 TINA Spice 电路,用于证明可以预测 Zo、CCO、RCO 及 CL对 Aol 曲线所产生的影响的公式。

图9.44:预测 Zo、CCO、RCO与CL 造成的Aol修正影响的 TINA 电路
图9.44:预测 Zo、CCO、RCO与CL 造成的Aol修正影响的 TINA 电路

图 9.45:Zo、CCO、RCO 及 CL 造成的Aol 修正影响
图 9.45:Zo、CCO、RCO 及 CL 造成的Aol 修正影响

我们从图 9.45 可以看出模拟结果,用于检查针对 Zo、CCO、RCO 与 CL的 Aol 修正公式。预测的 fpc2=1kHz,实际 fpc2=1.23kHz;预测的 fzc2=10kHz,实际 fzc2=10.25kHz;预测的fpc3=106kHz,实际 fpc3=105.80kHz。根据我们的等效 Zo 模型,我们的预测非常接近模拟结果。

根据图 9.43 的分析及相关模拟证明,我们可以创建如图 9.46 所示的最终 Aol 修正预测。最终闭环响应 Vout/Vin 预计为平直曲线,直到环路增益在 fcl 位置达到零点,此时预计其遵循所示的Aol修正曲线。

图 9.46:最终Aol 修正预测
图 9.46:最终Aol 修正预测

图 9.47 为采用最终输出引脚补偿的 AC 稳定性测试电路。最终可以产生由于输出引脚补偿与CL造成的Aol 修正曲线。

图 9.47:AC 稳定性电路:输出引脚补偿
图 9.47:AC 稳定性电路:输出引脚补偿

图 9.48 说明采用输出引脚补偿方法的最终Aol 修正结果,其符合图 9.46 所示的一阶预测。

图 9.48:AC 稳定性图:输出引脚补偿
图 9.48:AC 稳定性图:输出引脚补偿

我们将采用图 9.49 的电路进行基于最终输出引脚补偿的瞬态稳定性测试。

图 9.49:瞬态稳定性测试:输出引脚补偿
图 9.49:瞬态稳定性测试:输出引脚补偿

图 9.50 的瞬态稳定性测试结果证明我们确实已经正确地为用于 CMOS RRO 差动放大器的输出引脚补偿方法选择了合理的补偿值。

图 9.50:瞬态稳定性结果:输出引脚补偿
图 9.50:瞬态稳定性结果:输出引脚补偿

图 9.51 的 TINA 电路使我们能够确定图 9.46 中的预测 Vout/Vin 转移函数是否正确。

图 9.51:Vout/Vin AC 响应电路:输出引脚补偿
图 9.51:Vout/Vin AC 响应电路:输出引脚补偿

我们可以从图 9.52 看出针对由输出引脚补偿方法补偿之后的 INA152 电路的 Vout/Vin AC 闭环响应。图 9.46 的对比说明我们的预测响应符合模拟结果,闭环响应图从稍高于 35kHz 之处开始倾斜。

图 9.52:Vout/Vin AC 响应:输出引脚补偿
图 9.52:Vout/Vin AC 响应:输出引脚补偿

我们在图 9.53 中返回到最初的 CMOS RRO 应用并在 INA152 中增加输出引脚补偿,另外关闭整个环路,以便利用瞬态稳定性测试来检查稳定性。

图9
图9.53:可编程电源:输出引脚补偿

图 9.54 表明,通过利用输出引脚补偿方法消除 INA152 输出的电容负载不稳定性,我们可以实现稳定的可编程电源。

图9
图9.54:可编程电源:基于输出引脚补偿的瞬态稳定性测试

钽电容器简介

在电容器值超过约 1uF 情况下,往往采用钽电容器,因为其具有较高的电容值及相对较小的尺寸。钽电容器并非纯粹的电容。它们还具有 ESR 或电阻元件及较低的寄生电感与阻抗(参见图 9.55)。除电容之外,它最重要的组件是 ESR。在采用输出引脚补偿方法实现稳定性时,应当确保 ESR 小于 RCO/10,以保证 RCO 是主导电阻,从而设定 Aol 修正曲线的零点。

图 9.55:钽电容器与输出引脚补偿说明
图 9.55:钽电容器与输出引脚补偿说明

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发表于:2008-2-15 18:00:50
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无针电子针灸器的制作电路

 


无针电子针灸器的制作

本文介绍一种无针的电子针灸器,它不用针,也不会感到痛,却能享受到针灸的种种好处。
一、电路说明

图1是电子针灸器的电路原理图。电路的电源为9V电池B1。开关S1用来接通和断开电子针灸器用,它在结构上与电位器R10是联动的。电阻R1用来限制电路的耗电。
R2—R4、C1与556组成双定时器。当S2断开时,C1的充放电时间约为0.5秒,S2闭合时,C1的充放电时间约为0.25秒。ICl⑤脚为第1只定时器的输出,它经R5和C3送至ICl的⑧脚,这部分又与R7、R8和C4组成第2只定时电路。
电感脉冲时间经限流电阻R8加到晶体管Q1的基极。在Ql导通时,音频变压器T1初级短时接地,T1没有电流流过。电容C5在Q1截止时经T1初级充电,Q1导通时又经Q1放电,这样C5便随着T1的通电和切断电流而进行充放电。充电周期使脉冲的上升和下降时间变得缓慢一点,同时又增加了从T1送出脉冲的持续期,使输出波形更接近于半个正弦波。

C6、D1和R9组成输出波形整形电路。电位器R10用来调整脉冲幅度,脉冲最大幅度可达到200V左右,脉冲持续期为2ms,总电流消耗不超过10mA。
二、制作方法

印板图见图2,元件装配图见图3,先装ICl的集成电路插座、电阻和电容,焊接电解电容C1时要注意极性要正确,然后再焊二极管,也要注意极性。印制板与板外元件如带开关的电位器(R10/S1)、乒乓开关S2和变压器T1时,可用4英寸长的22号外覆绝缘层的导线进行连接。焊接好9V Bl的电池接线后,就可插入Q1和ICl进行焊接,这两个器件的焊接方向要仔细检查。
接着安装板外元器件,并将印制板要放于外盒内,外盒尺寸至少为4X2X1英寸。外盒一端,用电钻开两个孔,分别安装R10/S1和S2;外盒侧面安装两只带螺母固定的插口J1和J2,印制板上焊接J1和J2的两个方形焊盘可根据你的方便用导线连接或将J1和J2直接焊在方形焊盘上。J1和J2焊接好后,就可将印制板用螺钉和分隔柱固定在外盒内,再将所有板外元器件用连线连接至印制板的相应位置。
三、调整和使用方法
接入9V调整和使用方法电池,用R10/S1接通电源,再慢慢旋转R10至中间位置,将手臂放在J1和J2上,这时你便可感到脉冲快慢随着S2的通断而增加或减少。然后慢慢按顺时针或反时针方向转动R10,便可成受到“针刺”脉冲强度的减少或增加。

图4是用传统针灸法可治疗各种疾病的穴位图,如果你患有某种疾病,便可对照图4选择合适的穴位可将插口J2直接放置于该穴位上,另一插口儿可以放在皮薄的任何部位(只要构成脉冲回路就行)。为了取得最佳的治疗效果,可以使用电子针灸器一日可多至三次,每次在5分钟至15分钟之间。 四、使用电极垫板
许多电子针灸医生现在都借用电极板附着于适当的穴位皮肤上来治疗疾病,这样便可对大面积的整个神经辟进行针灸刺激。因此本电路只要稍加修改,便可使之具有通用性。修改的方法很简单,实际上是将本电子针灸器的J2和J1两个输出端用导线延长至电极板,便于电极垫板有只够的长度沿径路的始末进行针刺刺激,导线的一头用鳄鱼夹或香蕉插头与J1和J2相连,另一头可直接焊在电极热板上,电极垫板可用导电良好的铜薄片制成,有2英寸见方就足够了。为了使与皮肤接触得更为良好,电极表面可涂一层导电性液体,使治疗效果更佳。要进行多次治疗并节省导电液时,可将电极临时放在塑料口袋里,此防止导电液迅速干掉。在使用时可参照图5进行行。图5中列出了各种神经的位置与走向,便于你安放电子针灸的两个电极。脊椎系统是所有神经的发源基地,它共有31根神经,可以分成4个大群,其中颈部神经群和骶部神经群伸展到手臂和腿部,而胸部神经群和腰部神经群则如图5所示分布到全身的所有部位。神经群的始端和末端是走向可查看图5中标有C、S、T或L字样的线条。治疗时你可以将两个电极分置于该条神经的始末,也可以只置于一段神经上,其中包含你感觉有疼痛的部位,使用应多做几次试验以找到最佳的供痛位置。

  1、支气管炎; 12、头晕; 23、颈部痉挛症 34、便秘; 45、肩痛
2、高血压; 13、颈部神经痛; 24、头晕; 35、膝关节痛; 46、肘关节痛;
3、肩痛 14、气喘咳嗽; 25、一般劳损; 36、大腿浮肿; 47、上肢瘫痪;
4、上肢瘫痪; 15、一般劳损, 26、坐骨神经痛; 37、酒醉; 48、视力损伤;
5、脊间神经病; 16、糖尿病; 27、大腿劳损; 38、肩痛 49、牙痛,
6、胃下垂 17、肠炎 28、阵发性痉挛 39、胺部风湿病; 50、手关节痛;
7、呕吐 18、肝肾病; 29、下肢瘫痪 40、恢复疲劳; 51、下肢瘫痪;
8、胃病; 19、遗尿 30、手部肌肉痛; 41、痔疮, 52、高血压,
9、腹泻, 20、恢复疲劳, 31、手瘫痪; 42、下肢神经痛; 53、恢复疲劳。
10、妇科病; 21、便秘, 32、指关节痛, 43、膝关节劳损,
11、膀胱炎 22、头痛; 33、妇科病, 44、膝关节痛'

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发表于:2008-2-15 17:51:25
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补偿电容的正常电流等于多少?

补偿电容的正常电流等于多少?(经验公式) 精华帖

 

补偿电容的正常电流等于多少

   1)确定电容量(经验公式):

额定工作电压400V时:1KVAr×19.9=19.9μF                     

25KVAr×19.9=497.5μF                                            

    30 KVAr×19.9=597μF

   本公司的低压补偿电容就是这两种。

   2)电容量与电流的关系(经验公式):

C=14×I  (额定工作电压400V)                  

C÷14=I

497.5÷14=35.5A36A   (25KVAr)

597÷14=42.6A43A    (30KVAr)

   3)无功功率与电流的关系(经验公式):

1 KVAr×1.44=1.44A  (额定工作电压400V)

25 KVAr×1.44=36A

30 KVAr×1.44=43.2A43A

 

正常公式:

1、Q = UI = U×U/Xc = U×U×2πfC ;
2、若:U = 400V ,f = 50HZ ,
   则:U×U×2πf = 400×400×2×3.14×50 = 50240000
3、Q = 50240000×C (var)= 50240×C(Kvar)
4、C = Q/50240(F)= Q/50240×1000000(μF)= Q/0.05(μF)
   C = 20Q(μF)
5、当:Q = 30Kvar,U = 400V ,f = 50HZ 时:
       C = 20Q = 20×30 = 600 μF

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发表于:2008-1-11 18:58:14
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精确地测量快速上升/下降的ADC采样时钟

在许多应用中,均要求具备探测高速信号的能力,从而对你的示波器以及探头组合提出了带宽要求。测量精密ADC采样时钟就是其中一个应用,在此,对示波器以及示波器探头组合的要求就是至关重要的。ADC时钟的信号完整性可能限制性能,正如下列著名方程所给出的那样:


在该方程中,f是被采样的模拟频率,tj是时钟源上的RMS抖动(这证明SNR(信噪比)将随着时钟源上抖动的增加而恶化)。这个方程直接适用于采样耐奎斯特型转换器,Δ-∑ ADC—如ISL260001—受益于过采样,且抖动要求因过采样率(OSR)而稍微下降。

这通常意味着需要具有比较快速的边沿以及良好的信号完整性的采样时钟,以获得最大的ADC性能。在常规的ADC工作模式中,一个要求就是采样时钟为50MHz。

现代逻辑可以方便地提供<1ns的时钟边沿,满足ADC时钟应用的推荐,但是,对你的测量设置提出了高带宽要求。上升时间为0.7ns的时钟具有500MHz的信号带宽,采用一阶近似,就得到BW=0.35/上升时间。根据经验法则,你的测量带宽应该大于3倍的信号带宽,因此,对测量带宽的要求是>1.5GHz。

下面显示了利用1GHz带宽的示波器以及500MHz带宽示波器探头对50MHz采样时钟进行测量的结果。1GHz示波器来自具有500MHz探头的制造商,它推荐采用(可选)较高带宽有源探头进行较高频率的测量。图1显示了利用所提供的10倍、500MHz示波器探头测量ADC采样时钟的屏幕抓图。


图1:利用500MHz探头测量时钟信号的屏幕抓图(点击图像放大)。

该屏幕还显示了对测得的1.4ns上升时间的10%-90%的计算值。因为在时钟驱动器上探头存在加载效应,且存在示波器和探头带宽的限制,这个测量值具有固有的不确定性。10 MΩ/8pF探头在50MHz大约等效于300 Ω;这个负载被放置在你正在探测的DUT两端。

在作出任何高速测量的过程中,一个重要考虑就是探头的地回路;在测量中所采用的地回路如图1所示,近似为1英寸。采用标准的6英寸地回路,导致在回路路径中的感抗过大,从而导致时钟信号出现振铃现象。在这种情形下,测量是没有意义的。

减小跨越你的测试点两端探头电容效应的途径之一,就是采用如参考文献1所描述的阻性、传输线型探头。该探头的加载电容被减少为<1-2pF。探头带宽限制被极大地减少了,容许你实现示波器的整个带宽。在你的电路上的容性加载也被极大地减少了,从而让你在比较接近实际应用的情形下对ADC进行测量。该探头在50 Ω同轴电缆的末端焊接了一个1 kΩ轴向电阻。如图2所示为它的等效电路。


图2:电阻性探头的等效电路(点击放大图像)。

1 kΩ电阻将把直流负载呈现给DUT;这对于大多数应用来说应该不是问题,但是,应予以考虑。示波器输入端接应该设置为50 Ωm,从而导致大约20:1的衰减。

低成本构建这种探头的方式如图3所示。探头适配器是一个具有SMA插座对插座的适配器,其中,在一端焊接了轴向引线的电阻。如图所示,短的地引线也被焊接上了。地引线应该尽可能短,以最小化回路的电感。


图3:电阻/适配器组合(点击放大图像)。

这种适配器可以被附接到标准的SMA/BNC电缆组件上(例如RG-316)。该适配器可以根据需要拆除和安装。图4所示为适配器与电缆的照片。这种适配器的总成本为小于20美元。


图4:电缆和适配器的照片(点击放大图片)。

这种适配器/同轴电缆组合在此被用于测量时钟信号,如图5所示。


图5:利用阻性探头测量时钟信号的屏幕抓图。

20倍的衰减—可被视为波形幅度—被显示为165mV(3.3V/20)。950 Ω的电阻会导致接近20:1的衰减因子。然而,上升/下降时间显示为比采用500MHz探头看到的结果更陡峭。上升时间—更早时为1.4ns—在此为688ps。这个测量值非常接近时钟驱动器指标的期望值。

对于高频应用来说,可以采用专门设计的有源探头,尽管上述方法并不是为了替代这些有源探头,但是,这种适配器能够帮助显示由一个10倍探头才能捕获的上升时间,并有助于你避免造成测量误差。本文用很短的篇幅说明当进行高频测量时要注意的事项,并提供了在实验室中有所帮助的、简单、低成本的解决方案。

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发表于:2008-1-9 19:22:07
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用少量元件实现噪声减半的自动调零放大器

Analog Devices AD8553自动调零仪表放大器有一个独特的结构,它的两只增益设定电阻没有公共节点(参考文献1)。该IC的前级是一个精密电压/电流转换器,其中增益电阻R1设定了互导的大小。IC的后级是一个精密电流/电压转换器,与反馈电阻R2的值共同确定了总体电压增益,即G=2(R2/R1)。会发现,两只增益设定电阻是相互独立的,输入级是一个压控电流源,可以减少有极端降噪需求的放大器的元件数。

图1AD8553仪表放大器有独特的架构带有一个输入电压/电流转换器用很少元件就能实现 50%的降噪


  有两种方式,用更多的放大器来降低噪声。首先,假设放大器中的随机噪声源互相独立。另外,假设噪声服从一种高斯分布。当对传统电压放大器输出作均化时,可以用N只放大器和三倍数量的电阻,将噪声降低到1/√N(参考文献2)。AD8553的内部结构可以只用N+1只电阻,将几乎无限数量的IC并行工作。通过将更多IC的相应输入端并联,连接起来的内部电压/电流源也很容易并行工作(图1)。多只IC的并联输入端有微伏级的输入电压偏置失配,在这里是无害的,因为电压/电流转换器的输出电阻理论上是无限大。

  N个输入级并联的最终结果是,它们的输出电流为N(VINP-VINN)/(2R1),或者是单只

IC的N倍。只要使用N只IC电流/电压级中的一级。该级的反馈电阻阻值为R2/N,其中R2是对应于单只IC所需电压增益AV的值。由于放大器IC中的主要噪声源是其输入级,可以假设N个并联电压/电流转换器的输出电流随机成份的标准差为sNI=sI×√N,其中sI是一个电压/电流转换器的输出电流随机成份的标准差。这些结果与参考文献2中所述有差别,该文作者是通过多个电压的平均来实现降噪。另一方面,图1中电压/电流转换器公共输出的电流确定部分是单只IC值的N倍。下列公式用于计算RSNR(相对信噪比),它定义为对输出噪声标准差的输出电流:RSNRN=(N×I)/(sI×√N)=√N×RSNR1。公式的含意是:与单只IC相比,实际电路噪声降低了1/√N。

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发表于:2007-12-3 18:04:48
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电压调整电路中的滤波电容应用分析

在消费类电子产品系统中,体积越来越小,器件摆放越来越密,模拟、数字部分已很难通过布局有效分开,系统设计工程师往往在电源网络中使用很多电容,衰减高频数字噪声,期望能“净化”电源,减少对模拟电路的干扰。

电压调整器中,在输入、输出端通常都各有一只电容,跨接在输入、输出管脚和地(GND)之间。输入电容的主要作用是滤除交流噪声,抑制输入端的电压变化。而输出电容的作用,除了构成反馈环路的一部分之外(增加一个额外的零点,当然不可避免的也要带来一个极点,提高环路的相位裕量),还可以抑制由于负载电流或者输入电压瞬变引起的输出电压变化。从某种角度来说,滤除交流噪声与抑制电压突变在本质上是一回事,那就是去除交流信号。

电容的特性

不同介质种类的电容,其自身特性相差甚远。在描述电容的特性之前,我们需要了解以下几个参数:

电阻—符号R,是指通过导体的直流电压与电流之比,单位为欧姆。

电抗—符号X,是交流电路中由电感和电容引起的阻抗部分,包括感抗(XL)和容抗(XC),单位为欧姆。

阻抗—符号Z,是一个复合参数,实部为电阻,虚部为电抗,单位为欧姆,所以阻抗也可以表示为:Z = R + jX。

电导—符号G,是指通过导体的直流电流与电压之比,电阻的倒数,单位为西门子。

电纳—符号B,是导纳的虚数部分,包括容纳(BC)和感纳(BL),单位为西门子。

导纳—符号Y,是阻抗Z的倒数,也是一个复合参数,实部为电导,虚部为电纳,单位为西门子,也可以表示为:Y = G + jB

导纳Y通常表示的是器件并联的情况,而阻抗Z表示的则是器件串联的情况,见图1。

其中,





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图1:阻抗与导纳的表示方法。

所以对于串联的器件组合,如果θ>0℃,则说明器件两端有感性,越接近90℃,感性越强,当θ=90℃时,为纯感性器件。同样θ< 0℃,则说明器件有容性,越接近-90℃,容性越强,当θ=-90℃时,为纯容性器件。常见的几种类型的电容特点如表1所示,

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表1:不同种类电容的优缺点。

现实中并没有纯电阻,也没有纯电容或电感,都是这几种理想器件的组合。实际的电解电容的等效电路可以表示如图2所示。其中:Ra—介质吸收引起的电阻,Ca—介质吸收引起的电容,RLE—漏电引起的电阻,RL—引线引起的电阻,LL—引线引起的电感。实际的多层陶瓷电容的等效电路则可以如3表示,对于用作滤波作用的电容,当然不希望有ESL,即使在高频也保持良好的容性,即θ等于或接近-90度。

图2
图2:电解电容的等效电路。

电容特性的实际测量

因此,我们只需要测量出电容引线两端的串联电阻(RS)、串联电容(CS)、串联电感(LS)、阻抗(Z)以及夹角(θ)在对应频率下的值,即可以较为全面地评估电容的特性。下面以Rubycon YXF系列电解电容为例,使用安捷伦的4284A Precision LCR Meter测试,得到表2中的数据。

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表2:Rubycon YXF系列电解电容测试数据。

从以上数据看出,50V/10uF电解电容,当f>800k,失去容性,呈现弱感性。表3则是Taiyo yuden贴片多层陶瓷电容16V/1uF、16V/0.1uF的测试数据。所以以上两颗电容在1MHz频率以内,都保持较高得Q值,呈现出良好得容性特征。

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表3:多层陶瓷电容测试数据[测试条件:Vbias=0V,Vac=1.0V]。

电容的并联效果

既然实际的电容特性与理想电容有一定的差距,那么接在输入、输出端的滤波电容到底产生了什么样的作用呢?有的应用手册上给出,使用两颗电容并联到GND,一颗容值较大的电解电容,另一颗是容值较小的陶瓷电容,比如C1=10uF,C2=0.1uF,为了研究并联的交流特性,加入一只电阻R0,等效成如下电路,交流特性的影响是由两只电容引起的,如图4所示。

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图3:多层陶瓷电容的等效电路。

图4
图4:两只电容并联的交流等效电路。

其中R0为信号源内阻,R1为电容C1的等效串联电阻,R2为电容C2的等效串联电阻。传输函数可以表示成下式,

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从上式不难看出,系统包括两个极点,两个零点。



,当满足条件C1>>C2,R1>>R2时,极点可以表达成下式,



以上面50V/10uF电解电容,和16V/1uF陶瓷电容的数据作为依据,对上述器件进行如下赋值,ESR取f=100kHz的值。R0 = 1Ω,C1 = 8.21uF,C2 = 0.997uF,R1 = 774mΩ,R2 = 190mΩ,图3网络的频率特性如图4所示,

从上图看出,在紧接着第一个极点P1之后,出现了第一个零点Z1,它是由R1、C1形成的,如果没有电容C2,AC曲线将保持水平,不再有衰减。正是由于C2的存在,使得增益在通过第二个极点P2之后继续衰减,直至第二个零点Z2。因此要使两只电容并联的增益衰减更多,可以将Z2外移,也就是使电容C2以及R2远小于C1、R1。

这是假定电容C、ESR在所有频率下都是定值的条件下,用MATHCAD计算出的理想曲线。实际上,根据上表中的数据告诉我们,C、ESR会随着频率而变化,而且在高频时会出现ESL,考虑到这些因素,得到的曲线如图5所示。图6是使用网络分析仪(Agilent 4395A)得到的实际频响曲线。

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图5:两只电容并联的幅度\相位频率特性。

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图6:根据实测数据计算出的频率特性。

在频率小于100kHz时,图5与图6几乎没有差别,大约在f>700kHz,由于ESL的作用,增益上翘。当满足条件R1×C1 = R2×C2时,根据上式系统可以简化成一个极点,一个零点。现实中满足这种条件的有两种情况,两只电容C1、C2完全相同,意味着类型、容值、ESR和频率特性等一样。

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图7:网络分析测到的频率特性。

容值与ESR成反比,对于同一类型的电容,实际上也基本满足这个规律。此时其零、极点变为

零点 -> 点击看大图

极点 -> 点击看大图

实际上此时可以等效成1个电容,它的容值为两个电容的并联Ce = C1//C2,ESR为两个ESR并联Re = R1//R2。

三只电容并联的情况如图8所示,传输函数可以表示成

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图8:三只电容并联的交流等效电路。

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从上式不难看出,系统包括三个极点,三个零点。

假定上述器件给出值如下,R0 = 1Ω、C1 = 10uF、C2 = 1uF、C3=0.1uF、R1 = 2Ω、R2 = 100mΩ、R3=50mΩ,网络的频率特性如图9,

衰减是第一个极点P1开始,到最后一个零点Z3结束。P1是由C1、R0+R1引起的,Z3是由C3、R3引起的。同样类似的情况,当满足R1×C1 = R2×C2 = R3×C3时,仍可以等效成一只电容,其容值为三个电容的并联Ce = C1//C2//C3,ESR为三个电阻并联Re = R1//R2//R3。

对于线性电压调整器,用户只关心输出端的交流噪声。这个噪声只有两个来源,一个是来自输入端,一个则是来自调整器本身。幸运的是,来自BCD新一代线性电压调整器能够很好地解决这两个问题。芯片本身出色的PSRR性能,可以很好的抑制来自输入端的交流噪声,尤其是在低频部分;而自身的输出噪声很低,几乎可以忽略。比如AP2121,PSRR为70d